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XS分析天平采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果全自动校准技术(FACT)-温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性变量程设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果
产品型号:XS205DU
厂商性质:经销商
更新时间:2018-10-10
浏览次数:391
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专业型分析天平
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